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Optoelektronik in der Technik / Optoelectronics in Engineering

Vorträge des 5. Internationalen Kongresses / Proceedings of the 5th International Congress Laser 81

  • Conference proceedings
  • © 1982

Overview

Editors:
  1. Wilhelm Waidelich

    1. Universität München, Neuherberg, Germany

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Table of contents (96 papers)

  1. Lasertechnisches Messen und Prüfen / Laser Measurement and Testing

    1. Holographische Schwingungsanalyse

      • B. Breuckmann, H. Marcher, W. Thieme
      Pages 95-99

    2. Bewertung lokaler Inhomogenitäten im Inneren von Bauteilen aus holographisch-interferometrischen Verformungsmessungen

      • G. Sepold, B. Fischer, Th. Kreis, H. Kreitlow
      Pages 100-104

    3. Automatisierte Auswertung holographischer Interferenzmuster bei der Untersuchung von Zugproben

      • Th. Kreis, B. Fischer, W. Jüptner, G. Sepold
      Pages 105-110

    4. Schwingungsmessungen an rotierenden Bauteilen unter Betriebsbedingungen mit einem Bild-Derotator

      • J. Geldmacher, H. Kreitlow, M.-A. Beeck, W. F. Fagan
      Pages 111-115

    5. A Motion compensated, Image derotated, Holographic Interferometer

      • W. F. Fagan
      Pages 116-119

    6. Entwicklung neuer Verfahren zur holographischen Schwingungsmessung an rotierenden Bauteilen

      • H. Kreitlow, J. Geldmacher, W. Jüptner
      Pages 120-126

    7. Real-Time Measurements in Optical Metrology

      • H. J. Tiziani
      Pages 127-138

    8. Wellenlängenstabilisierte Laserinterferometer

      • M. Kerner
      Pages 139-140

    9. Laser Diagnostics in High Energy Accelerators

      • R. Rossmanith, R. Schmidt
      Pages 141-145

    10. Doppler Laser Interferometry in Detonics

      • P. Andriot, P. Chapron, B. Laurent, F. Olive
      Pages 146-149

    11. Improved Pulsed Laser Distance Measurement Technique by Means of Ga-As Laser Source and Statistic Distance Data Processing

      • P. Štajdohar, F. Glavač, F. Nadles
      Pages 150-153

    12. Miniaturisierte Optik für einen Lichtleitfaser-Rotationssensor basierend auf dem Sagnac-Effekt

      • G. Schiffner, G. Schöner, B. Nottbeck
      Pages 154-158

    13. Rotationssensor hoher Empfindlichkeit mit Lichtleitfasern

      • K. Böhm, E. Weidel, P. Russer, K. Petermann, R. Ulrich
      Pages 159-163

    14. On-Line non-contact Measurement of Optical Fiber Diameter by Forward Scattering Laser System

      • Zhou Ming-Gao
      Pages 164-164

    15. Optisches Rückstreumessgerät

      • R. Spieker, M. Schulze
      Pages 165-170

    16. A Laser-Based Resonant Scattering System for Size Measurement of Individual Droplets and Microspheres

      • T. R. Lettieri, W. D. Jenkins, D. A. Swyt
      Pages 171-175

    17. Einsatz von Halbleiter-Lasern in der Meßtechnik — Optische Rauheitsmessung mittels Speckle-Kontrast-Verfahren

      • R.-J. Ahlers
      Pages 176-180

    18. Prüfung von Holzoberflächen mit He-Ne-Laser

      • T. J. Orech, I. Georgiev, J. Žilinec, M. Kleskeňová, J. Garaj
      Pages 181-187

    19. Accurate Wavelength Measurement of CW and Mode-Locked Tunable Lasers

      • W. Gornall, W. Clark
      Pages 188-189

  2. Laser in der Materialbearbeitung / Lasers in Material Processing

    1. Front Matter

      Pages 191-191
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Keywords

Editors and Affiliations

  • Universität München, Neuherberg, Germany

    Wilhelm Waidelich

Bibliographic Information

  • Book Title: Optoelektronik in der Technik / Optoelectronics in Engineering

  • Book Subtitle: Vorträge des 5. Internationalen Kongresses / Proceedings of the 5th International Congress Laser 81

  • Editors: Wilhelm Waidelich

  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-81693-2

  • Publisher: Springer Berlin, Heidelberg

  • eBook Packages: Springer Book Archive

  • Copyright Information: Springer-Verlag Berlin, Heidelberg 1982

  • Softcover ISBN: 978-3-540-10969-3Published: 01 April 1982

  • eBook ISBN: 978-3-642-81693-2Published: 06 December 2012

  • Edition Number: 1

  • Number of Pages: XXII, 582

  • Number of Illustrations: 111 b/w illustrations

  • Topics: Communications Engineering, Networks, Electronics and Microelectronics, Instrumentation, Engineering, general

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