Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Simulation mit PSPICE

Authors: Baumann, Peter

Free Preview
  • ​​Statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen zurück gewinnen
  • Ergänzung zum Laborpraktikum Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler
  • Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler
see more benefits

Buy this book

eBook $29.95
price for USA in USD (gross)
  • ISBN 978-3-8348-2495-0
  • Digitally watermarked, DRM-free
  • Included format: PDF
  • ebooks can be used on all reading devices
  • Immediate eBook download after purchase
About this Textbook

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

About the authors

Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen.

Table of contents (7 chapters)

Table of contents (7 chapters)
  • Halbleiterdioden

    Pages 1-13

    Baumann, Prof. Dr.-Ing. habil. Peter

  • Bipolartransistoren

    Pages 14-38

    Baumann, Prof. Dr.-Ing. habil. Peter

  • Sperrschicht-Feldeffekttransistoren

    Pages 39-54

    Baumann, Prof. Dr.-Ing. habil. Peter

  • MOS-Feldeffekttransistoren

    Pages 55-70

    Baumann, Prof. Dr.-Ing. habil. Peter

  • Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor

    Pages 71-80

    Baumann, Prof. Dr.-Ing. habil. Peter

Buy this book

eBook $29.95
price for USA in USD (gross)
  • ISBN 978-3-8348-2495-0
  • Digitally watermarked, DRM-free
  • Included format: PDF
  • ebooks can be used on all reading devices
  • Immediate eBook download after purchase
Loading...

Recommended for you

Loading...

Bibliographic Information

Bibliographic Information
Book Title
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Book Subtitle
Simulation mit PSPICE
Authors
Copyright
2012
Publisher
Springer Vieweg
Copyright Holder
Vieweg+Teubner Verlag | Springer Fachmedien Wiesbaden
eBook ISBN
978-3-8348-2495-0
DOI
10.1007/978-3-8348-2495-0
Edition Number
1
Number of Pages
IX, 135
Number of Illustrations
153 b/w illustrations
Topics