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  • © 2019

Moderne Röntgenbeugung

Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker

  • Bietet einen Überblick über Grundlagen sowie Techniken und Auswerteverfahren der Röntgenbeugung
  • Enthält viele Beispiele und Übungsaufgaben
  • Didaktisch hervorragend aufbereitet
  • Includes supplementary material: sn.pub/extras

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Table of contents (17 chapters)

  1. Front Matter

    Pages I-XVI
  2. Einleitung

    • Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel
    Pages 1-4
  3. Erzeugung und Eigenschaften von Röntgenstrahlung

    • Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel
    Pages 5-40
  4. Beugung von Röntgenstrahlung

    • Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel
    Pages 41-94
  5. Hardware für die Röntgenbeugung

    • Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel
    Pages 95-166
  6. Methoden der Röntgenbeugung

    • Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel
    Pages 167-234
  7. Phasenanalyse

    • Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel
    Pages 235-274
  8. Zellparameterbestimmung

    • Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel
    Pages 275-290
  9. Mathematische Beschreibung von Röntgenbeugungsdiagrammen

    • Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel
    Pages 291-314
  10. Kristallstrukturanalyse

    • Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel
    Pages 315-324
  11. Röntgenographische Spannungsanalyse

    • Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel
    Pages 325-406
  12. Röntgenographische Texturanalyse

    • Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel
    Pages 407-470
  13. Bestimmung der Kristallorientierung

    • Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel
    Pages 471-480
  14. Untersuchungen an dünnen Schichten

    • Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel
    Pages 481-516
  15. Spezielle Verfahren

    • Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel
    Pages 517-556
  16. Komplexe Anwendung

    • Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel
    Pages 557-582
  17. Zusammenfassung

    • Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel
    Pages 583-584
  18. Lösung der Aufgaben

    • Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel
    Pages 585-606
  19. Back Matter

    Pages 607-636

About this book

Das Buch bietet einen umfassenden Überblick über die Anwendungen der Röntgenbeugung in Gebieten wie Werkstofftechnik, Metallurgie, Elektrotechnik, Maschinenbau sowie Mikro- und Nanotechnik. Die nötigen Grundkenntnisse der Röntgenbeugung werden fundiert und anschaulich vermittelt. Dabei werden neue Techniken und Auswerteverfahren ebenso dargestellt wie altbekannte Methoden.
Es richtet sich dabei an Studierende der Materialwissenschaft, Physik und Chemie an Universitäten, Hochschulen und Fachhochschulen, sowie an Anwender in der Industrie.

Der Inhalt

Erzeugung und Eigenschaften von Röntgenstrahlung – Beugung von Röntgenstrahlung – Hardware für die Röntgenbeugung – Methoden der Röntgenbeugung – Qualitative und quantitative Phasenanalyse – Zellparameterbestimmung – Röntgenprofilanalyse – Kristallstrukturanalyse – Röntgenografische Spannungsanalyse – Röntgenografische Texturanalyse – Kristallorientierungsbestimmung – Besonderheiten bei dünnen Schichten – Spezielle Verfahren – Komplexe Anwendungen - Übungsaufgaben

Die Zielgruppen

Studierende der Materialwissenschaft, Physik und Chemie an Universitäten, Hochschulen und Fachhochschulen

Anwender in der Industrie

Die Autoren

Prof. Dr. Lothar Spieß, TU Ilmenau

Dr. Gerd Teichert, MFPA Weimar

Prof. Dr. Robert Schwarzer, TU Clausthal

Dr. Herfried Behnken, Access e.V. Aachen

Prof. Dr. Christoph Genzel, Helmholtz-Zentrum Berlin

Reviews

Besonders hervorzuheben: “… sind die Zusammenhänge insgesamt sehr ausführlich und sehr gut verständlich beschrieben. Die Abbildungen und Tabellen helfen sehr gut beim Grundverständnis weiter.” (Dr.-Ing. Kay-Peter Hoyer, Lehrstuhl für Werkstoffkunde, Universität Paderborn)

Authors and Affiliations

  • TU Ilmenau , Ilmenau, Germany

    Lothar Spieß

  • MFPA Weimar, Weimar, Germany

    Gerd Teichert

  • TU Clausthal, Clausthal-Zellerfeld, Germany

    Robert Schwarzer

  • Acess e.V. Aachen, Aachen, Germany

    Herfried Behnken

  • Helmholtz-Zentrum Berlin, Berlin, Germany

    Christoph Genzel

About the authors

Prof. Dr. Lothar Spieß

1977 bis 1982 Studium „Physik und Technik Elektronische Bauelemente“ an der TH Ilmenau, 1981 bis 1984 Forschungsstudium. Seit 1984 wissenschaftlicher Mitarbeiter und Laborleiter an der TU Ilmenau, Institut Werkstofftechnik bzw. Institut für Mikro- und Nanotechnologie, 1985 Promotion, 1990 Habilitation „Komplexe Festkörperanalyse“, 1995 bis 2007 Privatdozent, seit 2007 außerplanmäßiger Professor, Qualitätsmanagementbeauftragter für Prüfzentrum Schicht- und Materialeigenschaften MFPA Weimar, Arbeitskreisleiter Thüringen und stellvertretender Fachausschutzvorsitzender Materialcharakterisierung der DGZfP .

Dr. Gerd Teichert

1976 bis 1981 Studium der Kristallographie an der Karl-Marx-Universität Leipzig. 1981 bis 1985 wissenschaftlicher Mitarbeiter im Bereich Chemie/Werkstoffe der TH Ilmenau. 1985 bis 1990 Gruppenleiter Werkstoffe im Thermometerwerk Geraberg. 1991 bis 1992 Leiter der Abteilung Hartstoffbeschichtung/Vakuumhärterei der Firma Wälztechnik Saacke-Zorn GmbH & Co. KG. Seit 1994 Leiter des Prüfzentrums Schicht- und Materialeigenschaften der Materialforschungs- und -prüfanstalt Weimar an der TU Ilmenau, Institut für Werkstofftechnik. Leiter des Arbeitskreises Werkstofftechnik, Thüringer Bezirksverein e. V. des VDI.

Prof. Dr. Robert Schwarzer

1965 bis 1970 Studium der Physik, Universität Tübingen. 1974 Promotion Dr. rer. nat., 1970 bis 1979 wiss. Angestellter, Institut für Physik Universität Tübingen. 1975 bis 1976 Gastwissenschaftler, Staatsuniversität Campinas, Brasilien. 1979 bis 1981 Angestellter im Behördenbereich. 1981 Akademischer Rat, TU Clausthal. 1989 Habilitation, 1993 apl. Professor. 2002-2009 Akad. Direktor. Seit 2009 im Ruhestand. 2002 Alexander-von-Humboldt-Forschungspreis der Poln. Akademie der Wissenschaften.

Dr. Herfried Behnken

1977 bis 1987 Studium an der RWTH-Aachen, Physik, Wirtschaftswissenschaften. 1987 bis 1999 wiss. Angestellter: IWK, RWTH-Aachen; IWE, Forschungszentrum Jülich; IWT, Bremen. 1992 Promotion Dr. ing., RWTH-Aachen. 2000 bis 2002 Forschungsstipendium der DFG. 2002 Habilitation, bis 2018 Privatdozent  an der RWTH-Aachen. Seit 2002 Access e.V. Aachen.

Prof. Dr. Christoph Genzel

1979 bis 1984 Studium der Kristallographie an der Humboldt-Universität Berlin. 1986 Promotion Dr. rer. nat., 1986 bis 1990 wiss. Mitarbeiter am Bereich Kristallographie der HU Berlin. Seit 1991 wiss. Mitarbeiter am Helmholtz- Zentrum Berlin für Materialien und Energie (vormals Hahn-Meitner-Institut). 2000 Habilitation, 2001 bis 2007 Privatdozent an der TU Berlin, seit 2007 außerplanmäßiger Professor, seit 2012 Abteilungsleiter der Abteilung Mikrostruktur- und Eigenspannungsanalyse am HZB.


Bibliographic Information

  • Book Title: Moderne Röntgenbeugung

  • Book Subtitle: Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker

  • Authors: Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel

  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8232-5

  • Publisher: Springer Spektrum Wiesbaden

  • eBook Packages: Life Science and Basic Disciplines (German Language)

  • Copyright Information: Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH, ein Teil von Springer Nature 2019

  • Softcover ISBN: 978-3-8348-1219-3Published: 02 May 2019

  • eBook ISBN: 978-3-8348-8232-5Published: 09 April 2019

  • Edition Number: 3

  • Number of Pages: XVI, 636

  • Number of Illustrations: 315 b/w illustrations, 77 illustrations in colour

  • Topics: Applied and Technical Physics, Characterization and Evaluation of Materials, Crystallography and Scattering Methods

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