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Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme

Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung

Authors: Băjenescu, Titu-Marius I.

  • Von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung
    Präzise und praxisnahe Zuverlässigkeitsaspekte umfassend dargestellt, ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme
    Praktischen Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit der verschiedenen Komponenten

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eBook $89.00
price for USA in USD (gross)
  • The eBook version of this title will be available soon
  • Due: March 3, 2020
  • ISBN 978-3-658-22178-2
  • Digitally watermarked, DRM-free
  • Included format:
  • ebooks can be used on all reading devices
Hardcover $119.99
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  • Customers within the U.S. and Canada please contact Customer Service at +1-800-777-4643, Latin America please contact us at +1-212-460-1500 (24 hours a day, 7 days a week).
  • Due: February 4, 2020
  • ISBN 978-3-658-22177-5
  • Free shipping for individuals worldwide
About this book

Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.

About the authors

Titu-Marius I. Băjenescu ist emeritierter Universitätsprofessor und war zuletzt als unabhängiger Berater in den Bereichen Telekommunikation, Zuverlässigkeit, Qualität und Sicherheit elektronischer Systeme tätig. Er hat an zahlreichen europäischen Universitäten geforscht und gelehrt und für seine Leistungen zwei Ehrendoktortitel erhalten. Er ist Autor mehrerer Bücher zum Thema elektronischer Bauelemente in französischer, rumänischer, englischer und deutscher Sprache.

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Bibliographic Information

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Book Title
Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme
Book Subtitle
Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung
Authors
Copyright
2020
Publisher
Springer Vieweg
Copyright Holder
Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH, ein Teil von Springer Nature
eBook ISBN
978-3-658-22178-2
DOI
10.1007/978-3-658-22178-2
Hardcover ISBN
978-3-658-22177-5
Edition Number
1
Number of Pages
XX, 513
Number of Illustrations
231 illustrations in colour
Topics