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X-Ray Fluorescence Spectrometry (XRF) in Geoarchaeology

Editors: Shackley, M. Steven (Ed.)

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  • No other volume examining recently technological advances of XRF for archaeological uses.
  • Contributors are archaeologists, geologists, chemists and physicists
  • Provides invaluable guidance to the technology, pertinent for those working at historically or culturally sensitive sites where non-destructive analysis of archaeological materials is imperative
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この教本について

Since the 1960s, x-ray fluorescence spectrometry (XRF), both wavelength and energy-dispersive have served as the workhorse for non-destructive and destructive analyses of archaeological materials. Recently eclipsed by other instrumentation such as LA-ICP-MS, XRF remains the mainstay of non-destructive chemical analyses in archaeology, particularly for volcanic rocks, and most particularly for obsidian. In a world where heritage and repatriation issues drive archaeological method and theory, XRF remains an important tool for understanding the human past, and will remain so for decades to come.

Currently, there is no comprehensive book in XRF applications in archaeology at a time when the applications of portable XRF and desktop XRF instrumentation are exploding particularly in anthropology and archaeology departments worldwide.

The contributors to this volume are at the forefront of the newest applications of XRF to archaeological solutions.  It covers all relevant aspects of the field for those using the newest XRF technologies.

著者について

M. Steven Shackley is Professor of Anthropology and Director of the Berkeley Archaeological XRF Laboratory at the University of California, Berkeley.

Table of contents (10 chapters)

Table of contents (10 chapters)
  • X-Ray Fluorescence Spectrometry in Twenty-First Century Archaeology

    Pages 1-6

    Shackley, M. Steven

  • An Introduction to X-Ray Fluorescence (XRF) Analysis in Archaeology

    Pages 7-44

    Shackley, M. Steven

  • Factors Affecting the Energy-Dispersive X-Ray Fluorescence (EDXRF) Analysis of Archaeological Obsidian

    Pages 45-63

    Davis, M. Kathleen (et al.)

  • Non-destructive EDXRF Analyses of Archaeological Basalts

    Pages 65-79

    Lundblad, Steven P. (et al.)

  • Non-destructive Applications of Wavelength XRF in Obsidian Studies

    Pages 81-107

    Francesco, Annamaria (et al.)

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書誌情報

Bibliographic Information
Book Title
X-Ray Fluorescence Spectrometry (XRF) in Geoarchaeology
Editors
  • M. Steven Shackley
Copyright
2011
Publisher
Springer-Verlag New York
Copyright Holder
Springer Science+Business Media, LLC
イーブック ISBN
978-1-4419-6886-9
DOI
10.1007/978-1-4419-6886-9
ハードカバー ISBN
978-1-4419-6885-2
ソフトカバー ISBN
978-1-4614-3620-1
Edition Number
1
Number of Pages
XIV, 231
Number of Illustrations
21 b/w illustrations, 11 illustrations in colour
Topics