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Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Simulation mit PSPICE

Authors: Baumann, Peter

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  • Statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen zurück gewinnen
    Ergänzung zum Laborpraktikum Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler
    Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler

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eBook 22,99 €
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  • ISBN 978-3-658-26574-8
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About this Textbook

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

About the authors

Prof. (em.) Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Ausgewählte Kapitel der Elektrotechnik an der Hochschule Bremen.

Table of contents (8 chapters)

Table of contents (8 chapters)
  • Halbleiterdioden

    Pages 1-14

    Baumann, Peter

  • Bipolartransistoren

    Pages 15-42

    Baumann, Peter

  • Sperrschicht-Feldeffekttransistoren

    Pages 43-59

    Baumann, Peter

  • MOS-Feldeffekttransistoren

    Pages 61-77

    Baumann, Peter

  • Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor

    Pages 79-89

    Baumann, Peter

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Bibliographic Information

Bibliographic Information
Book Title
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Book Subtitle
Simulation mit PSPICE
Authors
Copyright
2019
Publisher
Springer Vieweg
Copyright Holder
Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH, ein Teil von Springer Nature
eBook ISBN
978-3-658-26574-8
DOI
10.1007/978-3-658-26574-8
Softcover ISBN
978-3-658-26573-1
Edition Number
2
Number of Pages
XI, 187
Number of Illustrations
194 b/w illustrations
Topics

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