Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Simulation mit PSPICE

Autoren: Baumann, Peter

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  • Statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen zurück gewinnen
    Ergänzung zum Laborpraktikum Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler
    Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler

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  • ISBN 978-3-658-26574-8
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Über dieses Lehrbuch

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

Über den Autor

Prof. (em.) Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Ausgewählte Kapitel der Elektrotechnik an der Hochschule Bremen.

Inhaltsverzeichnis (8 Kapitel)

Inhaltsverzeichnis (8 Kapitel)
  • Halbleiterdioden

    Seiten 1-14

    Baumann, Peter

  • Bipolartransistoren

    Seiten 15-42

    Baumann, Peter

  • Sperrschicht-Feldeffekttransistoren

    Seiten 43-59

    Baumann, Peter

  • MOS-Feldeffekttransistoren

    Seiten 61-77

    Baumann, Peter

  • Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor

    Seiten 79-89

    Baumann, Peter

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Bibliografische Information

Bibliographic Information
Buchtitel
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Buchuntertitel
Simulation mit PSPICE
Autoren
Copyright
2019
Verlag
Springer Vieweg
Copyright Inhaber
Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH, ein Teil von Springer Nature
eBook ISBN
978-3-658-26574-8
DOI
10.1007/978-3-658-26574-8
Softcover ISBN
978-3-658-26573-1
Auflage
2
Seitenzahl
XI, 187
Anzahl der Bilder
194 schwarz-weiß Abbildungen
Themen