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Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme

Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung

Autoren: Băjenescu, Titu-Marius I.

  • Von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung
    Präzise und praxisnahe Zuverlässigkeitsaspekte umfassend dargestellt, ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme
    Praktischen Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit der verschiedenen Komponenten

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eBook 79,99 €
Preis für Deutschland (Brutto)
  • Die eBook-Version des Titels ist in Kürze verfügbar
  • Erscheinungstermin: 4. Februar 2020
  • ISBN 978-3-658-22178-2
  • Versehen mit digitalem Wasserzeichen, DRM-frei
  • Erhältliche Formate:
  • eBooks sind auf allen Endgeräten nutzbar
Hardcover 99,99 €
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  • Erscheinungstermin: 4. Februar 2020
  • ISBN 978-3-658-22177-5
  • Kostenfreier Versand für Individualkunden weltweit
Über dieses Buch

Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.

Über den Autor

Titu-Marius I. Băjenescu ist emeritierter Universitätsprofessor und war zuletzt als unabhängiger Berater in den Bereichen Telekommunikation, Zuverlässigkeit, Qualität und Sicherheit elektronischer Systeme tätig. Er hat an zahlreichen europäischen Universitäten geforscht und gelehrt und für seine Leistungen zwei Ehrendoktortitel erhalten. Er ist Autor mehrerer Bücher zum Thema elektronischer Bauelemente in französischer, rumänischer, englischer und deutscher Sprache.

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Bibliografische Information

Bibliographic Information
Buchtitel
Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme
Buchuntertitel
Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung
Autoren
Copyright
2020
Verlag
Springer Vieweg
Copyright Inhaber
Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH, ein Teil von Springer Nature
eBook ISBN
978-3-658-22178-2
DOI
10.1007/978-3-658-22178-2
Hardcover ISBN
978-3-658-22177-5
Auflage
1
Seitenzahl
XXXIII, 641
Anzahl der Bilder
260 schwarz-weiß Abbildungen, 24 Abbildungen in Farbe
Themen