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NanoScience and Technology

Noncontact Atomic Force Microscopy

Volume 2

Herausgeber: Morita, Seizo, Giessibl, Franz J., Wiesendanger, Roland (Eds.)

Vorschau
  • Is the most advanced state-of-the-art report on scanning probe microscopy
  • Presents the latest developments in STM and AFM
  • Deals with the various classes of materials studied
  • Is a valuable reference for researchers as well as a study text for graduate students
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Über dieses Buch

Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution; tuning fork; atomic manipulation; magnetic exchange force microscopy; atomic and molecular imaging in liquids; and other new technologies. These results and technologies are now helping evolve NC-AFM toward practical tools for characterization and manipulation of individual atoms/molecules and nanostructures with atomic/subatomic resolution. Therefore, the book exemplifies how NC-AFM has become a crucial tool for the expanding fields of nanoscience and nanotechnology.

Inhaltsverzeichnis (18 Kapitel)

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Bibliografische Information

Bibliographic Information
Buchtitel
Noncontact Atomic Force Microscopy
Buchuntertitel
Volume 2
Herausgeber
  • Seizo Morita
  • Franz J. Giessibl
  • Roland Wiesendanger
Titel der Buchreihe
NanoScience and Technology
Copyright
2009
Verlag
Springer-Verlag Berlin Heidelberg
Copyright Inhaber
Springer-Verlag Berlin Heidelberg
eBook ISBN
978-3-642-01495-6
DOI
10.1007/978-3-642-01495-6
Hardcover ISBN
978-3-642-01494-9
Softcover ISBN
978-3-642-26070-4
Buchreihen ISSN
1434-4904
Auflage
1
Seitenzahl
XVIII, 401
Anzahl der Bilder
28 schwarz-weiß Abbildungen, 77 Abbildungen in Farbe
Themen