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NanoScience and Technology
cover

Atomic Force Microscopy

Autoren: Voigtländer, Bert

  • Offers a full color pedagogic approach to atomic force microscopy
  • Presents the fundamentals of the technique in detail
  • Discusses related technical aspects in depth
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eBook 71,39 €
Preis für Deutschland (Brutto)
  • Die eBook-Version des Titels ist in Kürze verfügbar
  • Erscheinungstermin: 2. Juli 2019
  • ISBN 978-3-030-13654-3
  • Versehen mit digitalem Wasserzeichen, DRM-frei
  • Erhältliche Formate:
  • eBooks sind auf allen Endgeräten nutzbar
Hardcover 128,39 €
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  • Erscheinungstermin: 2. Juli 2019
  • ISBN 978-3-030-13653-6
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Über dieses Buch

This book explains the operating principles of atomic force microscopy with the aim of enabling the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. This enhanced second edition to "Scanning Probe Microscopy" (Springer, 2015) represents a substantial extension and revision to the part on atomic force microscopy of the previous book. Covering both fundamental and important technical aspects of atomic force microscopy, this book concentrates on the principles the methods using a didactic approach in an easily digestible manner. While primarily aimed at graduate students in physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, this book is also useful for professionals and newcomers in the field, and is an ideal reference book in any atomic force microscopy lab.

Über den Autor

Prof. Dr. rer. nat. Bert Voigtländer studied Physics at the University of Cologne and the RWTH Aachen University, earning his Ph.D. in 1989. While a postdoctoral researcher at the IBM Research Center in Yorktown Heights, USA, he began his current field of research using scanning probe microscopy. As a staff scientist at the Jülich Research Centre (Forschungszentrum Jülich), his recent focus has been nanoscale charge transport measurements. In 2012, he founded the spin-off company mProbes, which offers multi-tip scanning probe microscopes. To date, he has authored and co-authored over 100 peer-reviewed publications.

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Bibliografische Information

Bibliographic Information
Buchtitel
Atomic Force Microscopy
Autoren
Titel der Buchreihe
NanoScience and Technology
Copyright
2019
Verlag
Springer International Publishing
Copyright Inhaber
Springer Nature Switzerland AG
eBook ISBN
978-3-030-13654-3
DOI
10.1007/978-3-030-13654-3
Hardcover ISBN
978-3-030-13653-6
Buchreihen ISSN
1434-4904
Auflage
2
Seitenzahl
XIV, 329
Anzahl der Bilder
28 schwarz-weiß Abbildungen, 127 Abbildungen in Farbe
Themen