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Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse

  • Book
  • © 1981

Overview

Part of the book series: Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen (FOLANW, volume 3049)

Part of the book sub series: Fachgruppe Physik, Chemie, Biologie (FPCB)

  • 159 Accesses

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Table of contents (8 chapters)

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Authors and Affiliations

  • Physikalische Chemie, Universität — Gesamthochschule — Siegen, Deutschland

    Günther Bünau, Klaus-Dieter Klöppel

Bibliographic Information

  • Book Title: Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse

  • Authors: Günther Bünau, Klaus-Dieter Klöppel

  • Series Title: Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen

  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-322-87528-0

  • Publisher: VS Verlag für Sozialwissenschaften Wiesbaden

  • eBook Packages: Springer Book Archive

  • Copyright Information: Westdeutscher Verlag GmbH, Opladen 1981

  • Softcover ISBN: 978-3-531-03049-4Published: 01 January 1981

  • eBook ISBN: 978-3-322-87528-0Published: 27 November 2013

  • Edition Number: 1

  • Number of Pages: 23

  • Number of Illustrations: 37 b/w illustrations

  • Topics: Science, Humanities and Social Sciences, multidisciplinary

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