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Fehlerdiagnose für Schaltnetze aus Modulen mit partiell injektiven Pfadfunktionen

  • Book
  • © 1987

Overview

Part of the book series: Informatik-Fachberichte (INFORMATIK, volume 139)

  • 258 Accesses

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About this book

In dieser Monographie werden Verfahren zur modularen Testerzeugung für Schaltnetze entwickelt. Ausgehend von einer Beschreibung der modularen Schaltung und den Tests für die einzelnen Module bestimmen diese Verfahren den Test für die modulare Schaltung. Die Arbeit geht in diesem Zusammenhang auch auf den prüfgerechten Entwurf modularer Schaltungen ein. In Analogie zum klassischen sensibilisierten Pfad, der 1 Bit Testinformation weiterleiten kann, wird der Pfadbegriff auf die parallele Weiterleitung von k Bit Testinformation verallgemeinert. Die Arbeit formalisiert dazu mehrere Klassen von partiell injektiven Pfadfunktionen; daraus werden Kriterien für die Mindesteigenschaften von pfadbildenden Modulen und Algorithmen zum Bilden solcher k-Bit-Pfade abgeleitet. Ziel des Buches ist es, Modultests, die mit speziellen Fehlermodellen und Verfahren in hoher Qualität erzeugbar sind, auch in umfangreichen, modularen Schaltungen anzuwenden. Das Buch liefert dafür die theoretischen Grundlagen und die wesentlichen Algorithmen, die in einer Teilimplementierung auch erprobt wurden.

Authors and Affiliations

  • Institut für Informatik IV, Universität Karlsruhe, Karlsruhe 1, Deutschland

    Michael Marhöfer

Bibliographic Information

  • Book Title: Fehlerdiagnose für Schaltnetze aus Modulen mit partiell injektiven Pfadfunktionen

  • Authors: Michael Marhöfer

  • Series Title: Informatik-Fachberichte

  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-72757-3

  • Publisher: Springer Berlin, Heidelberg

  • eBook Packages: Springer Book Archive

  • Copyright Information: Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1987

  • Softcover ISBN: 978-3-540-17938-2Published: 27 May 1987

  • eBook ISBN: 978-3-642-72757-3Published: 07 March 2013

  • Series ISSN: 0343-3005

  • Edition Number: 1

  • Number of Pages: XIV, 172

  • Topics: Logic Design, Electronics and Microelectronics, Instrumentation

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