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Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Simulation mit PSPICE

  • Textbook
  • © 2019

Overview

Authors:
  1. Peter Baumann

    1. Hochschule Bremen, Bremen, Germany

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  • Statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen zurück gewinnen
  • Ergänzung zum Laborpraktikum Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler
  • Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler

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Table of contents (8 chapters)

  1. Front Matter

    Pages I-XI
    Download chapter PDF

  2. Halbleiterdioden

    • Peter Baumann
    Pages 1-14

  3. Bipolartransistoren

    • Peter Baumann
    Pages 15-42

  4. Sperrschicht-Feldeffekttransistoren

    • Peter Baumann
    Pages 43-59

  5. MOS-Feldeffekttransistoren

    • Peter Baumann
    Pages 61-77

  6. Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor

    • Peter Baumann
    Pages 79-89

  7. Operationsverstärker

    • Peter Baumann
    Pages 91-110

  8. Optokoppler

    • Peter Baumann
    Pages 111-143

  9. Sensoren

    • Peter Baumann
    Pages 145-183

  10. Back Matter

    Pages 185-187
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About this book

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

Authors and Affiliations

  • Hochschule Bremen, Bremen, Germany

    Peter Baumann

About the author

Prof. (em.) Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Ausgewählte Kapitel der Elektrotechnik an der Hochschule Bremen.

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