Skip to main content
  • Book
  • © 1987

Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen

Part of the book series: Informatik-Fachberichte (INFORMATIK, volume 140)

Buy it now

Buying options

eBook USD 54.99
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
Softcover Book USD 69.99
Price excludes VAT (USA)
  • Compact, lightweight edition
  • Dispatched in 3 to 5 business days
  • Free shipping worldwide - see info

Tax calculation will be finalised at checkout

Other ways to access

This is a preview of subscription content, log in via an institution to check for access.

Table of contents (7 chapters)

  1. Front Matter

    Pages N2-XII
  2. Einleitung

    • Hans-Joachim Wunderlich
    Pages 1-4
  3. Das Testproblem für integrierte Schaltungen

    • Hans-Joachim Wunderlich
    Pages 5-32
  4. Grundlagen. Definitionen und Vorarbeiten

    • Hans-Joachim Wunderlich
    Pages 33-47
  5. Fehlerentdeckungs- und Signalwahrscheinlichkeiten

    • Hans-Joachim Wunderlich
    Pages 48-64
  6. Die Bestimmung effizienter Zufallstests

    • Hans-Joachim Wunderlich
    Pages 65-81
  7. Anwendungen bei Test- und Synthese-Algorithmen

    • Hans-Joachim Wunderlich
    Pages 82-99
  8. Praktische Ergebnisse

    • Hans-Joachim Wunderlich
    Pages 100-109
  9. Back Matter

    Pages 110-137

About this book

Die Arbeit behandelt den Selbsttext hochintegrierter digitaler Schaltungen mit zufällig erzeugten Mustern. Es wird ein neues Verfahren vorgestellt, um die Wahrscheinlichkeit abzuschätzen, mit der ein Fehler durch ein zufällig erzeugtes Muster erkannt wird, und um darauf aufbauend die notwendige Zahl von Zufallsmustern zu bestimmen. Beim konventionellen Zufallstest benötigen viele Schaltungen unwirtschaftlich große Mustermengen. Um dieses Problem zu lösen, wird eine Methode vorgeschlagen, für Zufallsmuster solche optimalen Verteilungen zu bestimmen, die eine besonders hohe Fehlererfassung erwarten lassen. In vielen Fällen kann so die nötige Musterzahl um mehrere Größenordnungen gesenkt werden. Zur Ausführung eines einfachen Selbsttests wird ein Modul vorgestellt, der auf dem Chip integriert werden kann und im Testmodus die Muster mit den geforderten Verteilungen erzeugt. Der Mehraufwand an Schaltelementen für den Selbsttest mit optimierten Zufallsmustern ist mit dem herkömmlichen Zufallstest vergleichbar. Aufgrund der behandelten Verfahren kann daher die Klasse der Schaltungen vergrößert werden, die mit Zufallsmustern selbsttestbar sind, ohne daß signifikante Mehrkosten anfallen.

Authors and Affiliations

  • Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz Technologiefabrik Informatik, Universität Karlsruhe, Karlsruhe 1, Deutschland

    Hans-Joachim Wunderlich

Bibliographic Information

  • Book Title: Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen

  • Authors: Hans-Joachim Wunderlich

  • Series Title: Informatik-Fachberichte

  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-72838-9

  • Publisher: Springer Berlin, Heidelberg

  • eBook Packages: Springer Book Archive

  • Copyright Information: Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1987

  • Softcover ISBN: 978-3-540-18072-2Published: 12 August 1987

  • eBook ISBN: 978-3-642-72838-9Published: 07 March 2013

  • Series ISSN: 0343-3005

  • Edition Number: 1

  • Number of Pages: XII, 133

  • Number of Illustrations: 4 b/w illustrations

  • Topics: Electronics and Microelectronics, Instrumentation

Buy it now

Buying options

eBook USD 54.99
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
Softcover Book USD 69.99
Price excludes VAT (USA)
  • Compact, lightweight edition
  • Dispatched in 3 to 5 business days
  • Free shipping worldwide - see info

Tax calculation will be finalised at checkout

Other ways to access