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H. Niemann⁰

H. Niemann
1. Lehrstuhl für Informatik 5 (Mustererkennung), Universität Erlangen-Nürnberg, Erlangen, Germany
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Part of the book series: Informatik-Fachberichte (INFORMATIK, volume 107)

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Pages I-XIII

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Eröffnung
1. Musterverarbeitende Systeme in der Prüf- und Robotertechnik
  
  R. D. Schraft, K. W. Melchior, M. Rueff
  
  Pages 1-24
2. Konturverfolgung zur Vollständigkeitsprüfung am Beispiel von Blechbaugruppen
  
  U. Weber
  
  Pages 25-25
3. Ein Verfahren zur Bestimmung von Faserorientierungen in GFK-Bauteilen
  
  R. Bolder
  
  Pages 26-26
4. Sensor mit kapazitiver taktiler Matrix (STM) zur Mustererkennung in der Automatisierungstechnik
  
  G. Gräbner, P. Kobes
  
  Pages 27-31
5. Lernverfahren zur Segmentierung Industrieller Röntgenbilder
  
  Helmut Strecker
  
  Pages 32-36
6. Fehlertolerante Mustererkennung in Linienbildern durch Teilgraphenisomorphie und diskriminierende Graphen
  
  Peter Kuner, Joachim Kreich, Gerd Maderlechner
  
  Pages 37-41
7. Modellgesteuerte Bildanalyse am Beispiel industrieller Szenen
  
  Klaus Grebner
  
  Pages 42-46
Klassifikation und Merkmalsgewinnung
1. PARTON Ein nicht-parametrisches Klassifikationssystem
  
  S. J. Pöppl
  
  Pages 47-47
2. Merkmalsbildung mit dem Fourier-Slice-Theorem und Einer Nichtlinearen Erweiterung
  
  Lutz Bernhardt
  
  Pages 48-52
3. Computeranalysen zur Leukämiefrüherkennung
  
  HM. Aus, H. Harms, M. Haucke, J. Beritova, U. Gunzer, I. Baumann et al.
  
  Pages 53-57
4. Normierte Krümmungsfunktionen zur Darstellung und Erkennung ebener Figuren
  
  E. D. Dickmanns
  
  Pages 58-62
5. Zweidimensionale Stochastische Modelle zur Klassifikation von Echomustern in Ultraschall-Parallel-Scan-Bildern der Leber
  
  U. Ranft
  
  Pages 63-68
3D-Verarbeitung
1. Die dynamische Pyramide zur 3D-Rekonstruktion von Bildpaaren
  
  J. Dengler, H. P. Meinzer
  
  Pages 69-69
2. Ein allgemeiner und modularer Ansatz zum Korrespondenzproblem
  
  Leonie S. Dreschler-Fischer, Ernst E. Triendl
  
  Pages 70-74
3. Dreidimensionale Abtastung industrieller Szenen mit optischer Lotung. Abtastverfahren Signalverarbeitung und Einsatzmöglichkeiten
  
  R. Grabowski, P. Wurll
  
  Pages 75-75
4. Optische Signalaufbereitung zur dreidimensionalen Formerfassung industrieller Oberflächen
  
  Hans Marguerre
  
  Pages 76-81
5. Plastische Darstellung von Voxelszenen durch optische Simulation
  
  H. Müller, W. Ernestus, B. Verhagen-Schönewald
  
  Pages 82-86
Bildfolgen
1. Symbolische Bildfolgenbeschreibung zur Objektverfolgung
  
  B. Bargel, A. Ebert, D. Ernst
  
  Pages 87-91
2. Toleranter Vergleich von Strukturen mit erweiterten, nicht-normalisierten Relationen
  
  Wolfgang Benn
  
  Pages 92-96

Keywords

Editors and Affiliations

Lehrstuhl für Informatik 5 (Mustererkennung), Universität Erlangen-Nürnberg, Erlangen, Germany

H. Niemann

Bibliographic Information

Book Title: Mustererkennung 1985
Book Subtitle: 7. DAGM-Symposium Erlangen, 24.–26. September 1985 Proceedings
Editors: H. Niemann
Series Title: Informatik-Fachberichte
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-70638-7
Publisher: Springer Berlin, Heidelberg
eBook Packages: Springer Book Archive
Copyright Information: Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1985
Softcover ISBN: 978-3-540-15696-3Published: 01 September 1985
eBook ISBN: 978-3-642-70638-7Published: 12 March 2013
Series ISSN: 0343-3005
Edition Number: 1
Number of Pages: XIV, 338
Number of Illustrations: 52 b/w illustrations
Topics: Artificial Intelligence, Pattern Recognition

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Mustererkennung 1985

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Klassifikation und Merkmalsgewinnung

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