IV. Internationaler Kongreß für Elektronenmikroskopie / IVth International Congress on Electron Microscopy / IVe Congres International de Microscopie Electronique. Berlin, 10.-17. September 1958

1. Front Matter

   Pages II-XIX

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2. Eröffnungs-Ansprache

   1. Eröffnungs-Ansprache

      • Ernst Ruska

      Pages 1-1

3. Opening remarks

   1. Opening remarks

      • V. E. Cosslett

      Pages 2-3

4. Festvortrag

   1. Festvortrag

      • M. von Laue

      Pages 4-8

5. Elektronen- und ionenoptische Elemente, Geräte und Verfahren

   1. Kathoden

      1. Über die Arbeitsweise und die elektronenoptischen Eigenschaften der Spitzenkathode

         • Y. Sakaki, S. Maruse

         Pages 9-13

      2. The point cathode as an electron source

         • M. Drechsler, V. E. Cosslett, W. C. Nixon

         Pages 13-20

      3. Recent progress in field emission at high current densities

         • J. K. Trolan, W. P. Dyke

         Pages 20-25

      4. Zur Frage der Stabilität der Feldelektronenemission

         • M. I. Elinson

         Pages 25-28

      5. Production of square temperature waves in filaments of field emission microscopes operating at low temperatures

         • R. Klein

         Pages 28-28

      6. Massenspektrometrische Untersuchung chemischer Reaktionen mit Hilfe einer Feldemissions-Ionenquelle

         • H. D. Beckey

         Pages 28-34

      7. Diskussionsbemerkung

         • M. von Ardenne

         Pages 35-35

      8. Messungen an Elektronenstrahlerzeugern

         • H. Boersch, G. Born

         Pages 35-39

      9. Der Boersch-Effekt und ein Ansatz zu seiner theoretischen Deutung

         • Friedrich Lenz

         Pages 39-40

      10. Potential well modulation of electron beams

          • L. Jacob

          Pages 40-42

      11. Versuche an einer Gasentladungskathode

          • Max Hahn

          Pages 42-44

   2. Linsen und Ablenksysteme

      1. Ein kombiniertes Integriergerät zur genaueren Berechnung der Felder elektronenoptischer Abbildungssysteme

         • G. W. Der-Schwarz

         Pages 45-48

      2. Über eine Zusatzlinse zur Kompensation der Farbabhängigkeit der Vergrößerung im elektrostatischen Elektronenmikroskop

         • W. Weitsch

         Pages 48-51

      3. The development of the lens system in the Hitachi electron microscope

         • Nozomu Morito, Bunya Tadano, Shinjiro Katagiri

         Pages 51-53

      4. Permanent magnet lens systems and their characteristics

         • Hirokazu Kimura, Yoshio Kikuchi

         Pages 53-57

      5. Mesure et correction de l’aberration d’ouverture des lentilles quadrupolaires magnétiques

         • Albert Septier

         Pages 57-61

Die vorliegenden Verhandlungen des IV. Internationalen Kongresses für Elektronenmikro­ skopie, der unter den Auspizien der International Federation of Electron Microscope Societies im Jahre 1958 in Berlin stattfand, veranschaulichen, in welchem Ausmaß die Elektronenmikroskopie in den letzten Jahren für viele Bereiche der Forschung an Bedeutung gewonnen hat. Etwa 400 Vorträge und einige Diskussionsbemerkungen, vor mehr als I 000 Teilnehmern aus 26 Ländern gehalten, waren zu veröffentlichen, wenn wir der Tradition der früheren Internationalen Kongresse in Delft (1949), in Paris (1950) und in London (1954) treubleiben wollten. Zum ersten Male war es nicht möglich, alle auf einem Internationalen Kongreß für Elektronenmikroskopie gehaltenen Vorträge in einem einzigen Band zusammenzufassen. Der I. Band dieser Verhandlungen enthält sowohl die Arbeiten zur Theorie der Elektronenmikroskopie und über die physikalische sowie technische Weiterentwicklung der Geräte, als auch Mitteilungen über die Anwendung des Elek­ tronenmikroskops zur Erforschung kristallographischer und technologischer Probleme ein­ schließlich der Präparationstechnik. Der II. Band bringt die Arbeiten über die Anwendung des Elektronenmikroskops zur Lösung biologischer und medizinischer Frages'tellungen und über die entsprechenden Präparationsverfahren. In Abweichung von der Reihenfolge, in der die Vorträge auf dem Kongreß gehalten wurden, waren wir bemüht, die Mitteilungen nach ihrem Sinnzusammenhang in kleinere Sachgruppen einzuordnen, um ein leichtes und schnelles Auffinden zusammengehöriger Themen zu ermöglichen. Die Inhaltsverzeichnisse, die beiden Bänden beigefügt sind, vermitteln eine ausreichende Über­ sicht. Jeder Band enthält ein alphabetisches Mitarbeiterverzeichnis.

• Elektron
• Elektronenmikroskopie
• Energie
• Forschung
• Geschichte
• Konstruktion
• Mikroskopie
• Molekül
• Rasterelektronenmikroskopie
• Röntgenmikroskopie
• Stabilität
• Technologie
• Transmissionselektronenmikroskopie
• Verfahren
• Wasserstoff

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