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  • Book
  • © 1981

Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse

Part of the book series: Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen (FOLANW, volume 3049)

Part of the book sub series: Fachgruppe Physik, Chemie, Biologie (FPCB)

  • 159 Accesses

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Table of contents (8 chapters)

  1. Front Matter

    Pages N1-1
  2. Einleitung

    • Günther von Bünau, Klaus-Dieter Klöppel
    Pages 3-4
  3. Apparatur

    • Günther von Bünau, Klaus-Dieter Klöppel
    Pages 4-5
  4. Allgemeines zur Sekundärionisierung

    • Günther von Bünau, Klaus-Dieter Klöppel
    Pages 5-7
  5. Sekundärionenausbeute

    • Günther von Bünau, Klaus-Dieter Klöppel
    Pages 8-8
  6. Nachweisempfindlichkeit

    • Günther von Bünau, Klaus-Dieter Klöppel
    Pages 9-9
  7. Hochauflösung

    • Günther von Bünau, Klaus-Dieter Klöppel
    Pages 10-14
  8. Fragmentierung organischer Verbindungen

    • Günther von Bünau, Klaus-Dieter Klöppel
    Pages 14-21
  9. Schlußbemerkung

    • Günther von Bünau, Klaus-Dieter Klöppel
    Pages 22-22
  10. Back Matter

    Pages 23-25

Authors and Affiliations

  • Physikalische Chemie, Universität — Gesamthochschule — Siegen, Deutschland

    Günther Bünau, Klaus-Dieter Klöppel

Bibliographic Information

  • Book Title: Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse

  • Authors: Günther Bünau, Klaus-Dieter Klöppel

  • Series Title: Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen

  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-322-87528-0

  • Publisher: VS Verlag für Sozialwissenschaften Wiesbaden

  • eBook Packages: Springer Book Archive

  • Copyright Information: Westdeutscher Verlag GmbH, Opladen 1981

  • Softcover ISBN: 978-3-531-03049-4Published: 01 January 1981

  • eBook ISBN: 978-3-322-87528-0Published: 27 November 2013

  • Edition Number: 1

  • Number of Pages: 23

  • Number of Illustrations: 37 b/w illustrations

  • Topics: Science, Humanities and Social Sciences, multidisciplinary

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