Skip to main content
SpringerLink
Log in

Entwurf selbsttestbarer Schaltungen

  • Book
  • © 1998

Overview

Authors:
  1. Albrecht P. Ströle

    1. Universität Karlsruhe, Deutschland

    View author publications

    You can also search for this author in PubMed   Google Scholar

Part of the book series: Teubner Texte zur Informatik (TTZI, volume 27)

  • 359 Accesses

This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.

Access this book

Log in via an institution
eBook USD 49.99
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
Softcover Book USD 59.99
Price excludes VAT (USA)
  • Compact, lightweight edition
  • Dispatched in 3 to 5 business days
  • Free shipping worldwide - see info

Tax calculation will be finalised at checkout

Other ways to access

Licence this eBook for your library

Institutional subscriptions

Table of contents (7 chapters)

  1. Front Matter

    Pages 1-10
    Download chapter PDF

  2. Einleitung

    • Albrecht P. Ströle
    Pages 11-16

  3. Defekte und Fehler

    • Albrecht P. Ströle
    Pages 17-43

  4. Teststrategien

    • Albrecht P. Ströle
    Pages 44-80

  5. Methoden und Hardware-Strukturen für Mustererzeugung und Kompaktierung

    • Albrecht P. Ströle
    Pages 81-183

  6. Synthese selbsttestbarer Schaltungen

    • Albrecht P. Ströle
    Pages 184-277

  7. Schluß

    • Albrecht P. Ströle
    Pages 278-283

  8. Literatur

    • Albrecht P. Ströle
    Pages 284-310

  9. Back Matter

    Pages 311-324
    Download chapter PDF
Back to top

Keywords

About this book

Die heutige Halbleitertechnologie kann nicht garantieren, daß alle gefertigten Chips korrekt funktionieren, selbst wenn der Entwurf fehlerfrei ist. Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren. Für den Selbsttest werden alle notwendigen Hilfsmittel wie Testmustergeneratoren und Kompaktierer für die Testantworten in die Schaltung eingebaut, so daß der Chip sich autonom, ohne teure externe Geräte testen kann. Der Testablauf wird dann so geplant, daß viele Teilschaltungen gleichzeitig bearbeitet werden und der gesamte Chiptest nur kurze Zeit benötigt.

Authors and Affiliations

  • Universität Karlsruhe, Deutschland

    Albrecht P. Ströle

Bibliographic Information

  • Book Title: Entwurf selbsttestbarer Schaltungen

  • Authors: Albrecht P. Ströle

  • Series Title: Teubner Texte zur Informatik

  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-322-85164-2

  • Publisher: Vieweg+Teubner Verlag Wiesbaden

  • eBook Packages: Springer Book Archive

  • Copyright Information: B. G. Teubner Verlagsgesellschaft Leipzig 1998

  • Softcover ISBN: 978-3-8154-2314-1Published: 01 January 1998

  • eBook ISBN: 978-3-322-85164-2Published: 08 March 2013

  • Series ISSN: 1615-4584

  • Edition Number: 1

  • Number of Pages: 322

  • Topics: Engineering, general

Publish with us

Policies and ethics

Back to top

Search

Navigation