Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Simulation mit PSPICE

Authors: Baumann, Peter

  • ​​Statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen zurück gewinnen
  • Ergänzung zum Laborpraktikum Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler
  • Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler
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About this Textbook

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

About the authors

Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen.

Table of contents (7 chapters)

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Bibliographic Information

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Book Title
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Book Subtitle
Simulation mit PSPICE
Authors
Copyright
2012
Publisher
Springer Vieweg
Copyright Holder
Vieweg+Teubner Verlag | Springer Fachmedien Wiesbaden
eBook ISBN
978-3-8348-2495-0
DOI
10.1007/978-3-8348-2495-0
Softcover ISBN
978-3-8348-2494-3
Edition Number
1
Number of Pages
IX, 135
Number of Illustrations and Tables
153 b/w illustrations
Topics