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Mathematics | Mikro- und Nanoskopie der Werkstoffe

Mikro- und Nanoskopie der Werkstoffe

Hornbogen, Erhard, Skrotzki, Birgit

Ursprünglich erschienen als Band 11 in der Reihe: WFT Werkstoff-Forschung

3. Aufl. 2009, VIII, 248

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  • Das einzige deutschsprachige Buch zum Thema

Das Buch gibt eine Einführung in die mikroskopische Strukturanalyse von Werkstoffen, vor allem von Metallen, aber auch von Halbleitern, Keramiken, Polymeren und Verbundwerkstoffen. Die mikroskopischen Methoden werden systematisch und vergleichend erörtert. Da Strukturen im Nanometerbereich in der Materialforschung ganz besondere Beachtung gewonnen haben, stehen die Methoden der Transmissionselektronenmikroskopie im Mittelpunkt des Buches. Zu ihnen zählen auch die Beugung zur Analyse der Struktur der Phasen sowie die Spektroskopie für die quantitative Bestimmung der Atomarten. Darüber hinaus wurden insbesondere die Lichtmikroskopie und die Rasterelektronenmikroskopie gründlich behandelt.

Das Buch eignet sich für Studierende der Werkstoffwissenschaft ebenso wie für Naturwissenschaftler und Ingenieure, die einen Einstieg in das Gebiet der Mikroskopie von metallischen, keramischen und polymeren Werkstoffen suchen. Jedes Kapitel enthält zahlreiche Abbildungen und weiterführende Literaturhinweise.

Die 3. Auflage wurde gründlich neu bearbeitet und aktualisiert.

Content Level » Graduate

Stichwörter » Beugung - Elektronenbeugung - Elektronenmikroskop - Elektronenmikroskopie - Keramik - Kristall - Mikroskopie - Polymer - Rasterelektronenmikroskop - Rasterelektronenmikroskopie - Rastertransmissionselektronenmikroskop - Spektroskopie - Strukturanalyse - Transmissionselektronenmikroskop - Verbundwerkstoff

Verwandte Fachbereiche » Kennzeichnung & Bewertung von Materialien - Materialwissenschaften - Mathematik - Optik & Laserphysik

Inhaltsverzeichnis / Probeseiten 

1 Systematik und Methoden zur Kennzeichnung des Aufbaus der Werkstoffe .................................................................................................. 1.1 Einleitung.......................................................................................... 1.2 Systematik des Gefüges................................................................... 1.3 Verschiedene optische Verfahren zur Analyse des Aufbaus der Werkstoffe ............................................................................................ 1.3.1 Lichtmikroskopie..................................................................... 1.3.2 Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) ......................... 1.3.3 Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM) .............. 1.3.4 Feldionenmikroskopie (FIM) und Atomsondenspektroskopie 1.3.5 Emissionsmikroskopie............................................................. 1.3.6 Elektronenstrahlmikrosonde (ESMA) ..................................... 1.3.7 Rasterelektronenmikroskop (REM)......................................... 1.3.8 Focused Ion Beam (FIB) ......................................................... 1.3.9 Rastersondenmikroskopie (SPM) ............................................ 1.3.10 Computertomographie (CT) .................................................. 1.4 Nanostrukturen ........................................................................... 1.5 Kombination der Untersuchungsverfahren................................... Literatur ............................................................................................ 2 Herstellung von Proben................................................................ 2.1 Einleitung..................................................................................... 2.2Vorzerkleinern................................................................................ 2.3 Vordünnen ...................................................................................... 2.4 Dünnpolieren .................................................................................. 2.5 Ionendünnen ................................................................................... 2.6 Zielpräparation................................................................................ 2.7 Focused Ion Beam.......................................................................... 2.8 Einführung der Probe in den Probenhalter ..................................... Literatur ............................................................................................... 3 Elektronenbeugung.......................................................................... X Inhalt 3.1 Einleitung........................................................................................ 3.2 Benennung von Kristallstrukturen.................................................... 3.3 Auswertung der Beugungsbilder ..................................................... 3.4 Simulation von Beugungsbildern ..................................................... 3.5 Intensität der Reflexe...................................................................... 3.6 Kikuchi-Linien................................................................................ 3.7 Weitere Information aus Beugungsbildern....................................... 3.8 Konvergente Beugung ..................................................................... 3.9 Beugung an Gläsern und Quasikristallen ........................................ Literatur ................................................................................................ 4 Durchstrahlung

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