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- Statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen zurück gewinnen
- Ergänzung zum Laborpraktikum Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler
- Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler
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Table of contents (8 chapters)
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Back Matter
About this book
Keywords
- Elektrotechnik
- Elektronik
- Feldeffekttransistor
- Halbleiterdiode
- OrCAD-PSPICE
- SPICE-Modellparameter
- Sperrschicht-Feldeffekttransistor
- Bipolartransistor
- Transistor
- Buch
- Halbleiter
- Bauelement
- Optokoppler.
- Operationsverstärker
- MOS-Feldeffekttransistor
- Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor
- FET
- MOS-FET
- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren
- Diode
Authors and Affiliations
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Hochschule Bremen, Bremen, Germany
Peter Baumann
About the author
Bibliographic Information
Book Title: Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Book Subtitle: Simulation mit PSPICE
Authors: Peter Baumann
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-658-26574-8
Publisher: Springer Vieweg Wiesbaden
eBook Packages: Computer Science and Engineering (German Language)
Copyright Information: Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH, ein Teil von Springer Nature 2019
eBook ISBN: 978-3-658-26574-8Published: 13 November 2019
Edition Number: 2
Number of Pages: XI, 187
Number of Illustrations: 194 b/w illustrations
Topics: Electronics and Microelectronics, Instrumentation, Power Electronics, Electrical Machines and Networks, Microwaves, RF and Optical Engineering, Electronic Circuits and Devices