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Advances in Computer Vision and Pattern Recognition

Integrated Imaging and Vision Techniques for Industrial Inspection

Advances and Applications

Herausgeber: Liu, Z., Ukida, H., Ramuhalli, P., Niel, K. (Eds.)

  • Presents the latest technologies and solutions for industrial inspection
  • Covers both theoretical advances and current engineering practices
  • Includes case studies that illustrate applications of the techniques to real problems
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Über dieses Buch

This pioneering text/reference presents a detailed focus on the use of machine vision techniques in industrial inspection applications. An internationally renowned selection of experts provide insights on a range of inspection tasks, drawn from their cutting-edge work in academia and industry, covering practical issues of vision system integration for real-world applications. Topics and features: presents a comprehensive review of state-of-the-art hardware and software tools for machine vision, and the evolution of algorithms for industrial inspection; includes in-depth descriptions of advanced inspection methodologies and machine vision technologies for specific needs; discusses the latest developments and future trends in imaging and vision techniques for industrial inspection tasks; provides a focus on imaging and vision system integration, implementation, and optimization; describes the pitfalls and barriers to developing successful inspection systems for smooth and efficient manufacturing process.

Über den Autor

Dr. Zheng Liu is an Associate Professor at the University of British Columbia, Kelowna, BC, Canada. Dr. Hiroyuki Ukida is an Associate Professor in the Institute of Technology and Science at the University of Tokushima, Japan. Dr. Pradeep Ramuhalli is a Senior Research Scientist at the Pacific Northwest National Laboratory, Richland, WA, USA. Dipl.-Ing. Kurt Niel is the Head of the Department of Metrology and Control Engineering at the University of Applied Sciences Upper Austria, Wels, Austria.

Inhaltsverzeichnis (15 Kapitel)

  • Industrial Inspection with Open Eyes: Advance with Machine Vision Technology

    Liu, Zheng (et al.)

    Seiten 1-37

  • Infrared Vision: Visual Inspection Beyond the Visible Spectrum

    Ibarra-Castanedo, Clemente (et al.)

    Seiten 41-58

  • Inspection Methods for Metal Surfaces: Image Acquisition and Algorithms for the Characterization of Defects

    Huber-Mörk, Reinhold (et al.)

    Seiten 59-99

  • FlexWarp, a Fast and Flexible Method for High-Precision Image Registration: A Nonparametric Approach for Precise Image Registration Applied to Industrial Print Inspection

    Penz, Harald (et al.)

    Seiten 101-139

  • How Optical CMMs and 3D Scanning Will Revolutionize the 3D Metrology World

    Larue, Jean-Francois (et al.)

    Seiten 141-176

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Bibliografische Information

Bibliographic Information
Buchtitel
Integrated Imaging and Vision Techniques for Industrial Inspection
Buchuntertitel
Advances and Applications
Herausgeber
  • Zheng Liu
  • Hiroyuki Ukida
  • Pradeep Ramuhalli
  • Kurt Niel
Titel der Buchreihe
Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
Copyright
2015
Verlag
Springer-Verlag London
Copyright Inhaber
Springer-Verlag London (outside the USA)
eBook ISBN
978-1-4471-6741-9
DOI
10.1007/978-1-4471-6741-9
Hardcover ISBN
978-1-4471-6740-2
Softcover ISBN
978-1-4471-6980-2
Buchreihen ISSN
2191-6586
Auflage
1
Seitenzahl
X, 541
Anzahl der Bilder und Tabellen
394 schwarz-weiß Abbildungen, 13 Abbildungen in Farbe
Themen