Overview
- Statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen zurück gewinnen
- Ergänzung zum Laborpraktikum Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler
- Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler
- Includes supplementary material: sn.pub/extras
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Table of contents (7 chapters)
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About this book
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.
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About the author
Bibliographic Information
Book Title: Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Book Subtitle: Simulation mit PSPICE
Authors: Peter Baumann
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-8348-2495-0
Publisher: Springer Vieweg Wiesbaden
eBook Packages: Computer Science and Engineering (German Language)
Copyright Information: Vieweg+Teubner Verlag | Springer Fachmedien Wiesbaden 2012
eBook ISBN: 978-3-8348-2495-0Published: 28 September 2012
Edition Number: 1
Number of Pages: IX, 135
Number of Illustrations: 153 b/w illustrations
Topics: Electronics and Microelectronics, Instrumentation, Power Electronics, Electrical Machines and Networks, Microwaves, RF and Optical Engineering, Electrical Engineering, Electronic Circuits and Devices